Hysitron纳米压痕仪—多用途原位力学测试平台|欧倍尔

Hysitron PI系列PicoIndenters

产品百科	作为纳米力学测试系统的全球领导者，布鲁克的Hysitron PI系列——PicoIndenter，使您可以在您的电镜中轻松实现原位力学实验。我们独特的传感器设计使得在整个实验中有无可比拟的稳定性，保证即使在纳米级别亦能获取精准数据。电镜的视频捕获功能可实现实时监控，并可与力学数据实现同步。配合在用的许多电镜品牌而设计，您肯定可以找到一款满足您研究所需的理想解决方案。

: Hysitron PI 85L SEM PicoIndenter多用途原位力学测试平台
直接在SEM工作台上安装，操作简单，超级稳定；为最大的接样品倾斜灵活度和最短的工作距离而设计；提供一种静精巧设计，可满足各类SEM，拉曼和光学显微镜，以及各类束线等。作为新一代专门的原位纳米力学测试仪器，为SEM中使用而设计但同时可适用于其他多种平台和环境中。

: Hysitron PI 88 SEM PicoIndenter SEM和FIB/SEM的理想搭配
真正实现直接观察条件下的定量纳米力学表征；高级的XYZ方向样品定位，可实现在较大样品上超好的横向精度以及线性和灵活定位，配合可选倾斜和旋转样品台；模块化设计，可搭载全搭套测试技术，包括800℃热台，划痕，扩展量程的传感器，电学偏压等等。Hysitron PI 88是用于SEMt和FIB/SEM中的原位纳米力学测量的全方位解决方案。

: Hysitron PI 95 TEM PicoIndenter在您TEM中实现定量纳米力学测试
第一套为TEM设计的最完备的深度传感压头；测试模式包含压入、压缩、拉伸、弯曲和划痕；特别为主流TEM型号（FEI,Hitachi,JEOL,Zeiss）而设计，实现完美互动。此外，通过视频接口，可以实现载荷-位移曲线与对应透射电镜视频在时序上的完全同步。除成像外，选区衍射可以用来判断样品取向和加载方向。使用三种层级的压头定位和力学测试。

: Hysitron PI系列测试模式
纳米压痕的形变实时观测：旨在精准定位，进行硬度、弹性模量的试验，同时观测材料变形过程。纳米压痕与EBSD（电子背散射衍射）结合：与这一高空间分辨技术的结合可对金属和合金采的全微区结构进行表征。通过测量单颗晶粒的硬度和模量，结合到EBSD图谱来关联取向与力学性能关系。微柱和颗粒的压缩：观察压缩对材料内位错的影响以测量屈服强度，来帮助预测村料性能，通过SEM或TEM图像确认压头准确对中和试验测量，获取纳米和微米颗粒的尺寸与强度关系的定量数据，为其将来在工程材料中作为构件使用提供依据。

: 悬臂梁和微臂弯曲和拉伸试验
界面断裂韧性：简化界面模型来直接观察、测量和分析失效机制，统一的样品几何使其适合与分子动力学（MD）和有限元模型（FEM）模拟进行对比。多层器件中失效预测：在多层微壁，复合或多相结构上施加弯曲应力来发现初始失效位置，并且观察破坏在材料中与界面上行进的进程。测量拉伸性能，观察位错萌生、钉扎与缺陷交互作用和其他变形机制。一维和二维材料：将纳米线和悬空薄膜置于经MEMS制备的压转拉装置中进行测试。在显微镜中测量计算，直接得到真实应力应变值。

: 纳米划痕迹、加热、动态、电学测试
原位摩擦可观测到在滑动界面发生的变形过程。可测量摩擦特性的同时直接观察磨损演化过程。增加加热功能可对温度所致材料变形进行直接测量和观察，非常适合模拟在极端条件下的材料耐受性测试。施以振荡力来连续测量随深度与频率变化的材料粘弹性和疲劳性能。增加电学功能可以实现在纳米压入、压缩或拉伸加载时同步测量电学和力学特性，从而理解材料或器件电学性能变化的起因。